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AXE-B17全局式三维扫描仪
AXE-B17全局式三维扫描仪采用光学测量技术,测量速度2,000,000次/秒,快速获取物体三维数据,精准得出几何曲面上的偏差值。全球首创内置摄影测量系统,超大视野,计量级测量精度。不受物体尺寸、形状、材质和复杂性等限制,可自由切换高速扫描和深孔扫描工作模式,高效精准。独立操作,一机测量,单机即可迅速完成中大型项目超高精度三维检测。
关键词:
隐藏域元素占位
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AXE-B17全局式三维扫描仪采用光学测量技术,测量速度2,000,000次/秒,快速获取物体三维数据,精准得出几何曲面上的偏差值。全球首创内置摄影测量系统,超大视野,计量级测量精度。不受物体尺寸、形状、材质和复杂性等限制,可自由切换高速扫描和深孔扫描工作模式,高效精准。独立操作,一机测量,单机即可迅速完成中大型项目超高精度三维检测。
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