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TrackScan-DUO跟踪式三维扫描系统
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TRACKSCAN-DUO
所属分类
ScanTech 思看扫描仪
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产品描述
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TRACKSCAN-DUO系统具备极大测量范围和极高测量精度。在高难度的三维扫描项目中，TRACKSCAN-DUO是优秀的三维测量解决方案，扫描过程快速简单，扫描数据精度极高，得益于Metronor30年测量技术沉淀，TRACKSCAN-DUO便携式三维测量系统具有极高的精度、最佳的扫描结果。
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独特的跟踪技术：LED光学跟踪技术，主动寻靶定位，具备更强的抗干扰能力和更大的工作量程。 超大的测量范围：激光扫描时最大工作距离可达10米，接触式光笔最大测量距离可达15米，轻松实现大物体三维检测。 |
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接触式测量兼容：配合TrackProbe 光笔，可实现接触式三维测量，1μm分辨率保证关键点高精度三维数据获取。 灵活的测量方案：支持单镜头、多镜头等多种光学跟踪装置方案，根据需求调整工作区域，扫描区域和扫描精度之间完美平衡。 |
